W minutę
Mohideen i Roy zmierzyli siłę Casimira mikroskopem sił atomowych między metalizowaną kulą o średnicy 196 mikrometrów a płaską płytką, przy odstępach od 0,1 do 0,9 mikrometra. Elektrostatycznie skalibrowali sztywność wspornika i skorygowali sygnał o resztkowy potencjał kontaktowy, rozproszone światło oraz zmiany odstępu między powierzchniami. Uśrednili 26 skanów w różnych miejscach płytki i uwzględnili poprawki na skończoną przewodność, chropowatość oraz temperaturę. Podany pierwiastek ze średniej kwadratów różnic względem skorygowanej teorii wyniósł 1,6 pikoniutona, co odpowiadało jednemu procentowi przy najmniejszym odstępie. Bez tych poprawek różnica wynosiła 6,3 pikoniutona. Autorzy uznali zgodność za spójną z poprawkami na przewodność i chropowatość; zaproponowane dalsze zwiększenie precyzji pomiaru pozostawało zadaniem na przyszłość.
Precision Measurement of the Casimir Force from 0.1 to 0.9 μm
- U. Mohideen(Autorstwo)
- Anushree Roy(Autorstwo)
Publikacja i identyfikatory
- Rodzaj publikacji
- Praca naukowa
- Rok
- 1998
- Wydawca
- American Physical Society
- Identyfikatory
- Odnośniki do oryginalnego źródła
Prawa i dostęp
Ta strona przedstawia metadane i odnośniki. Nie udziela zgody na powielanie, pobieranie ani dalsze rozpowszechnianie źródła.
- Zapisany status praw
- Tylko odnośniki
- Posiadacz praw
- American Physical Society (journal edition); preprint reuse permission not established
Dane do cytowania
Są to zapisane dane bibliograficzne; nie przyjęto żadnego stylu cytowania ani nie uzupełniono brakującego wydania.
- Oryginalny tytuł
- Precision Measurement of the Casimir Force from 0.1 to 0.9 μm
- Autorstwo i udział
- U. Mohideen(Autorstwo)
- Anushree Roy(Autorstwo)
- Rok
- 1998
- Wydawca
- American Physical Society
- Identyfikatory
- Odnośniki do oryginalnego źródła